QG-150/QG-250 用于 SI、GaAs、Ge、玻璃等表面瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来，是高标准检测工具。用于硅片、磷化铟、砷化镓晶片外观检查，快速识别颗粒、划痕、污渍缺陷。
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