进口晶片强光灯，目检强光灯，晶圆检测灯，晶片颗粒缺陷检测仪，Wafer表面检测强光灯

一、设备概况

1.1产品品称：目检强光灯

1.2品牌：CSMHK

1.3型号：QG-150/QG-250

1.4产品应用：用于肉眼观察的照明设备，可检测各种半导体晶片（硅片，砷化镓，蓝宝石，碳化硅等）及液晶基板，在加工中形成异物，刮痕，抛光不均，雾状，划伤等。

二、技术特点

2.1 大于300,000/400,000/500,000/600,000 luxes的照明光线，可容易检测出只有精密探测仪才可检测出的瑕疵；

2.2 使用卤素灯作为光源，色温高达3400°K，照光和颜色均保证了稳定强光的照射；

2.3 冷镜的使用，使得热影响与常规铝镜相比减少35%—50%；

2.4 可选黄光，蓝光，绿光等偏光，进一步区分污染物、油墨残留等特定缺陷‌；

2.5 光束直径由镜片调整，30—50mm自由调节；

2.6 底部开光，调整照明勘察器高度，操作简便，可控制勘察高度（140—300mm）。

三、主要技术参数